HP 8753E User Manual page 32

Network analyzer
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6-26. Effect of Smoothing on a Trace . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-27. IF Bandwidth Reduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-28. Markers on Trace
6-30. Source Match' 1 1 1 : 1 1 1 1 : : : 1 1 : : 1 : : : : : : : 1 : : 1 1 1 1 1
6-31. Load Match . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-32. Sources of Error in a Reflection Measurement . . . . . . . . . . . . . . . .
6-34. Effective Directivity EDF . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-35. Source Match Esr . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-36. Reflection Tracking Em . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-37. "Perfect Load" Termination
6-38. Measured Effective Directivity . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-39. Short Circuit Termination
6-40. Open Circuit Termination . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-41. Measured S11
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-42. Major Sources of Error . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-43. Transmission Coefficient . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-44. Load Match ELF . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-46. Full Two-Port Errbr'n;odeI : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : : :
6-47. FuII Two-Port Error Model Equations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-49. Response versus S 11 l-Port Calibration on Log Magnitude Format . . . . . . .
6-50. Response versus Sll l-Port Calibration on Smith Chart . . . . . . . . . . . .
6-51. Response versus FuII Two-Port Calibration
6-52. HP 87533 functional block diagram for a 2-port error-corrected measurement
system . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-53. 8-term TRL error model and generalized coefficients . . . . . . . . . . . . .
6-54. Typical Measurement Set up . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-55. Test Setup for Continuous Sample Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-56. Test Setup for Sample-and-Sweep Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-57. Alternate and Chop Sweeps Overlaid . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-58. Instrument State Function Block . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-59. Typical Setup for the External Source Mode . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-60. Typical Test Setup for a Frequency Offset Measurement . . . . . . . . . . .
6-61. Typical Harmonic Mode Test Setup . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-62. Device Frequency Domain and Time Domain Reflection Responses . . . . . .
6-63. A Reflection Measurement of Two Cables . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-67. Low Pass Step Measurements of Common Cable FauIts (Real Format) . . . . .
6-68. Time Domain Low Pass Measurement of an Amplifier SmaII SiiaI Transient
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6-69. Transmission Measurements Using Low Pass Impulse Mode . . . . . . . . . .
6-70. Masking Example . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-71. Impulse Width, Sidelobes, and Windowing . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-72. The Effects of Windowing on the Time Domain Responses of a Short Circuit . .
6-73. Response Resolution . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-74. Range Resolution of a Siie Discontinuity
6-75. Sequence of Steps in Gating Operation . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-76. Gate Shape . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-77. Amplifier Gain Measurement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6-78. Combined Effects of Amplitude and Phase Modulation . . . . . . . . . . . .
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