Table of Contents
Advertisement
组件补偿
App. 2.5.4
判读与高频探测音有关的鼓室导抗图可能很困难， 因为没有直接的方法可供使用。
基 线 补 偿
为了单独评估中耳的导纳， 必须消除耳道对耳的总导纳的影响。 这称为基线补偿。
使用低频探测音
•
基线补偿通过从总导纳中减去单一的耳道导纳来实现， 但是这只有在使用低频探测音( 例如 226 Hz) 时有
效。 原因是中耳通常在 226 Hz 时受劲度控制， 因此中耳
电导
和
声顺
同样，
声顺
的耳道
的作用相同， 包括确定耳道导纳的极值点。
使用较高频率的探测音
•
当探测音频率增大， 接近
质量
随着
出现这种情况时， 您不能再从总导纳曲线的每个点中减去耳道导纳( 在扫频中的一个极值点处测得) 。
电纳和电导曲线的基线补偿
•
但是， 基线补偿适用于单独的
的单独耳道
电导
从
曲线正确地计算出中耳导纳。
得 到 的 导 纳 鼓 室 导 抗 图
得到的导纳鼓室导抗图上的每一点都单独表示与耳道导纳的差异。
由于绝对差值不能为负， 所以在经过组件补偿的导纳曲线上的导纳值在整条曲线上始终为正值， 即使未经补偿
的凹陷导纳鼓室导抗图在通过此过程进行补偿后也通常会具有一个尖峰。 其原因是无论导纳变化是受
声顺
响还是受
Otometrics - MADSEN Zodiac
属性组成。
电导
和
属性在整个压力扫频过程中也不相同， 这使简单地减去在压力扫频中某个极值点测量
电导
和
成为可能。 换句话说， 在整个压力扫频过程中， 劲度和摩擦单独对导纳曲线的每个点起
质量
控制的频率区域时，
电纳
元素对
曲线的影响增加，
电纳
电纳
( 例如在 +200 daPa 时测量的值) ， 同时考虑到
曲线的每个点中减去耳道
影响， 它仍然是相对于耳道导纳参考点的绝对变化。
质量
电纳
和
电纳
电导
和
之间的关系在整个压力扫频过程中不再保持相同。
电导
和
曲线。 即您可以从整个扫频过程中的每个
电导
。 在这些组件单独补偿之后， 即可从这两条经过补偿的
App. 2 MADSEN Zodiac 导 抗方法和功能
元素不会影响导纳曲线。 所以， 导纳仅由
电导
之间的共变不复存在。 当接近峰值压力时，
质量
声顺
和
变化的影响。 同样地， 您也可以
声顺
电纳
点中减去测量到
电纳
电导
和
质量
影
157
Advertisement
Table of Contents
