Bender ISOMETER iso1685DP-425 Manual page 50

Insulation monitoring device for unearthed ac, ac/dc and dc power supplies (it systems) up to ac 1000 v/dc 1500 v or ac 200 v/dc 3000 v
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Diagrams
13.5 Response time profile Fast 2000 μF
Z
(p o
1000
100
10
0,1
1
Response value Ran [k ]
50
/
: &
2000μF)
Ce 1μF
Ce 10μF
Ce 100μF
Ce 1000μF
Ce 2000μF
10
100
Diagrams
13.6 Leakage capacitance
Limiting condition for detemining value of capacitance (iso1685DP; isoHV1685D)
Die
Beispiel:
Bei einem
1000
Bei einem
100
10
1
0,5
5
Fault resistance [kΩ]
Limiting condition for detemining value of capacitance (isoLR1685DP)
Fault resistance [kΩ]
der Ableitkapazität hängt von der Größe des
von 50 k
beträgt die minimal messbare Ableitkapazität 35 μF.
von 5 k
beträgt die minimal messbare Ableitkapazität 210 μF.
5
0
Fehlerwiderstand [k ]
isoxx1685Dx-x25_D00272_05_M_XXEN/04.2018
ab.
5
0
0

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