FLIR Exx Series Getting Started page 100

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• 若持握熱像儀時與目標垂直，請謹慎小心。注意反射，尤其是在低放射率的
情況下，因為您、熱像儀或周圍環境可能成為反射的主要來源。
• 選擇高放射率的區域，例如無光表面的區域，以便進行測量。
• 空白物體 (意即低放射率物體) 在熱像儀當中可能顯示為高溫或低溫的狀態，
因為它們主要為反射環境情況。
• 請避免陽光直射您正在檢查的影像細節。
• 不同的故障類型 (例如建築結構中的故障)，可能會導致同一類型的熱模式。
為了能正確分析紅外線影像，必須具備與應用相關的專業知識。
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#T810585; r. AA/73543/73543; mul 97