nader NDM2E Series Product Manual page 32

FnAd
30
Baud
31
TestTrip
32
K_CO
33
最近一次记忆故障类型
P_FT
34
最近一次记忆故障电流
P_FA
35
P_FP
36
最近一次记忆故障时间
P_FT
37
注 1：分闸为 0x0000，合闸为 0x0800
Note 1: 0x0000 for opening, 0x0800 for closing
注 2：N 相电流最小不小于长延时整定电流电流的 1/2，最大等同于长延时整定电流
Note 2: The minimum of phase-N current shall be not less than 1/2 of setting current of long-time delay, and the maximum value
shall be equal to the setting current of long-time delay.
1
A 相
Phase A
bit0 bit1
瞬时 漏电
Instantane Leakage
ous
地址：上海市浦东新区申江南路 2000 号
文件编号：NDT2920018
通讯地址
Communication address
波特率
Baud rate
脱扣试验
Tripping test
分合闸控制
On-off control
Memory failure type of
the last time
Memory failure current
of the last time
最近一次记忆故障相
Memory failure phase of
the last time
Memory failure time of
the last time
表 21：电流相说明
Table 21: Descriptions of current phase
2
B 相
Phase B
表 22：故障类型说明（位变量）
Table 22: Descriptions of failure type (bit variable)
bit2 bit3
接地 短延时
Grounding Short-time
delay
第 32 页 共 36 页
/
UCHAR
/
UCHAR
/
UINT
/
UINT
/
UINT
A
UINT
/
UINT
/
UINT
3
C 相
Phase C
bit4
长延时
Long-time
delay
邮编：201315 电话：(021)68586699
文件版本：4
0x0022
R/W
R/W 0x002E
W
0x002F
W
0x0030
R
0x0066
R
0x0067
R
0x0068
R
0x0069
4
N 相
Phase N
传真：(021)23025796
见表 29
See
Table 29
0xffaa->
脱扣
0xffaa->
tripping
见表 30
See
Table 30
同表 22
Same
with
Table 22
同表 21
Same
with
Table 21
x 20ms