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MR816CSX/MR816X
<2-2-7> ジッター測定（WORD CLOCK EXT）
[S/PDIF OUT]（COAXIAL）端子を測定します。
WORD CLOCK は以下を選択し、各入力ソースの
周波数設定を下記の値に設定します。
WORD CLOCK IN の検査 : WCLK
ADAT の検査 :
S/PDIF の検査 :
ジッター測定値が下記の値になることを確認します。
WORD CLOCK
44.1 kHz
48 kHz
88.1 kHz
96 kHz
＊デジタル特性検査終了後には必ずファクトリー
セットを行ってください。 （P. 40 「ファクトリー
セット」参照）
5-2.
No.1 MEMORY 検査
5-2-1. 概要
DM シ ー ト 上 の SSP1 周 辺 ROM/RAM の デ バ イ ス
チェック、デバイス間信号線の結線チェックを行い
ます。
5-2-2. 主な検査対象デバイス
・FLASH ROM
・SDRAM(SSP1 SUB)
・SRAM
・EEPROM
5-2-3. テスト方法
MEMORY 検査に対応した LED が点灯するように
[ASSIGN 1] エンコーダを回した後、[ASSIGN 1] エ
ンコーダを押して、テストを実行します。
自動で、各 ROM/RAM のチェックが行われます。
テ ス ト の 結 果 は、[ASSIGN 2] エ ン コ ー ダ の
MEMORY 検査に該当する LED が、OK の場合は点
灯、NG の場合は消灯することで示されます。
ASSIGN 1
1. MEMORY
（テスト項目選択）
60
ADAT
S/PDIF
許容値
5 nsec 以下
ASSIGN 2
1. MEMORY
（テスト結果）
（図 11）
5-2-4. テスト内容
SSP1 周 辺 の 全 て の ROM/RAM の チ ェ ッ ク 結 果 が
OK となることで、 本テストの結果が OK となります。
どれか一つでも NG であった場合は、本テストの結
果は NG となります。
• FLASH ROM
SSP1 から FLASH ROM の CFI Query 情報の読み出
しが行われます。
正しい情報を得ることが出来たら、SSP1 と FLASH
ROM の間の信号線は正しく接続されているとみな
し OK となります。
• SRAM
SSP1 と SRAM の間のデータバス、アドレスバス結
線チェックが行われます。
• SDRAM( SSP1 SUB )
SSP1 SUB と SDRAM の 間 の デ ー タ バ ス、 ア ド レ
スバス結線チェックが行われます。この検査では、
SSP1 MAIN と SSP1 SUB の間の信号線も使用される
ので、SSP1 MAIN と SSP1 SUB の間の信号線の結線
チェックも兼ねています。
• EEPROM
SSP1 か ら EEPROM に 対 し て、Write Disable コ マ
ンドを発行後、Read Status Register コマンドを発行
して、WEL ビットが立っていないことを確認しま
す。その後、Write Enable コマンドを発行後、Read
Status Register コマンドを発行して、WEL ビットが
立っていることを確認します。どちらも正しく WEL
ビットが読めたら、SSP1 と EEPROM の間の信号線
は正しく接続されているとみなし、OK となります。
5-3.
No.2 LED 検査
5-3-1. 概要
PN シート上の LED やパネルマイコンのデバイス
チェックと、LED、パネルマイコン、SSP1 間の信号
線の結線チェックを行います。
5-3-2. 主な検査対象デバイス
・パネルマイコン
・LED
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