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必须进行矩阵/基质校准才能调整测量值以适应背景环境。如果使用一个校准点，建议选择处于应用工
作范围下限的校准点。对于两个校准点，选择处于工作范围上限和下限的校准点。如果使用第三个校
准点，将其设为工作范围的中间值。
工作范围的限值取决于应用：
• 如果硝酸盐浓度改变而亚硝酸盐几乎不变，将限值设为最低和最高 NO
• 如果亚硝酸盐浓度改变而硝酸盐几乎不变，将限值设为最低和最高 NO
• 如果硝酸盐和亚硝酸盐浓度均改变，将限值设为最低和最高 NO
如果添加超过一个校准点，探头会自动了解三个校准点中的哪个需要重写。
各校准点均列在矩阵/基质校准 > 信息中并且可以手动删除。
如果发生以下任意事件，请删除所有现有校准点并记录新校准点：
• 探头移到另一环境
• 基质明显改变
• 基质呈季节性改变
• 工艺改变
• 测量值与实验值比对不上
• 错误消息显示需要进行矩阵/基质校准
注： 执行或清除矩阵 / 基质校准不会影响出厂校准。
确保已执行各校准程序的步骤：
• 探头在介质中且已经适应环境。
• 收集取样样品，然后，立刻在收集取样样品的控制器上进行验证。
• 在传感器附近收集样品（越近越好）。
• 在浓度稳定后，才开始矩阵/基质校准。
•
要测量取样样品，请参考实验室测量说明
1. 转至主菜单，然后选择校准 > 矩阵/基质校准 > Start matrix calibration（启动矩阵/基质校准）。
注： 可以存在一个、两个或三个打开的矩阵 / 基质校准点。在添加新的校准点之前，必须删除三个开放校准点中
的一个。
2. 立刻按照控制器上的说明收集取样样品。在收集取样样品后，立刻接受消息。在样品上书写所示点
ID。尽快制备取样样品（如过滤）以供实验室测量。
注： 测量数据最初保存在探头的控制器上，然后，在确定和输入实验室值后进行调整。
3. 使用两个参数在实验室中测量取样样品：NO
4. 选择校准 > 矩阵/基质校准 > 编辑打开的校准点。
注： 只有矩阵 / 基质校准开始后，编辑打开的校准点选项才会显示。
注： 确保传感器的化学式与实验室测量值相同（如 NO
所示为第一个打开的校准点。
5. 如果收集多份取样样品但未在收集间隔内输入实验室值，则使用点 ID 来确保分配正确。
a. 要输入打开的校准点，请确认开放点，然后，如果该点 ID 的样品测值与实验室值比对正常，则
选择输入实验室值。
b. 要删除打开的校准点，请确认开放点，然后选择删除此点。
6. 选择 Next（下一个）移到下一点。选择 Back（返回）完成矩阵/基质校准。
7. 选择校准 > 矩阵/基质校准 > 信息。
随即显示有关实际矩阵/基质校准的数据。
8. 选择校准 > 矩阵/基质校准 > 校准时间间隔，以设置矩阵/基质校准提醒。
注： 校准时间间隔针对最后完成的矩阵 / 基质校准。
如有必要，则返回保养校准。选择校准 > 矩阵/基质校准 > Reset to default（重置为默认值）。
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