Velleman DVM4x00 Series User Manual page 29

9.6. Diode- en hoorbare doorverbindingstest
Bereik
9.7. Capaciteitsmeting
Bereik Resolutie
60nF
600nF 100pF
6µF
60µF
300µF 100nF
9.8. Temperatuur
Bereik
-55°C ~ 0°C
1°C ~ 400°C
401°C ~ 1.000°C
Nota: fouten thermokoppel uitgezonderd
9.9. Frequentiemeting
Bereik Resolutie
99.99Hz
999.9Hz
9.999kHz
99.99kHz
999.99kHz
Gebruik dit toestel enkel met originele accessoires. Velleman nv is niet
aansprakelijk voor schade of kwetsuren bij (verkeerd) gebruik van dit
toestel. Voor meer informatie over dit product en de meest recente versie
van deze handleiding, zie www.velleman.eu. De informatie in deze
handleiding kan te allen tijde worden gewijzigd zonder voorafgaande
kennisgeving.
© A UTE URSRECHT
Velleman nv heeft het a uteursrec ht voor deze ha ndle id ing.
Alle we re ldwijde re chten voorbe houde n. He t is nie t toe gestaan om deze handle iding of gedee lten
e rvan ove r te neme n, te k opië re n, te ve rtale n, te be we rk en e n op te slaan op e en e lek tronisch
me dium zonde r voorafgaande schrifte lijke toe stemm ing van de re chthe bbende .
Ingebouwde zoemer bij weerstanden < 30Ω
Voorwaartse teststroom (DC): ± 1mA
Inverse testspanning: ± 1.5Vdc
10pF <10nF: ±(5.0% vd (uitlezing - 50 digits) + 20 digits)
>10nF: ±(3.0% vd uitlezing + 10 digits)
1nF
10nF
Resolutie
0.1°C
1°C
0.01Hz
0.1Hz
±(0.1% vd uitlezing + 3
1Hz
10Hz
100Hz
parameters
Nauwkeurigheid
±(5.0% vd uitlezing +10 digits)
Nauwkeurigheid
Logisch
(1Hz~1MHz)
digits)
Nauwkeurigheid
±(5.0% vd uitlezing + 4°C)
±(1.0% vd uitlezing + 3°C)
±(2.0% vd uitlezing)
Lineair
(6Hz~10KHz)
±(0.05% vd uitlezing + 8
digits)
N.A.