Roland ME-33 Service Notes page 9

ME-33
5. Special check of output section frequency response.
"TEST 1" will appear on the LCD screen.
Sine waves of 20 Hz, 1 kHz, 5 kHz and 15 kHz will be output at
0.8-second intervals.
(DSP internal oscillation, automatic loop)
Switch the noise meter to "FLAT".
Check the level using the noise meter.
Check the output waveform of OUTPUT L/R and PHONES L/
R for distortion using an oscilloscope.
Check Lch (MONO) and Rch individually.
Set the level difference between Lch and Rch to +1 dBu or -1 dBu.
Frequency level 1
20 Hz -20 dBu +3, -1 dBu
1K Hz -20 dBu +3, -1 dBu
5K Hz -20 dBu +3, -1 dBu
15K Hz -20 dBu +3, -1 dBu
5. 出力部 f 特チェック
LCD に "TEST 1" と表示されます。
0.8 秒間隔で、20 Hz, 1K Hz, 5K Hz, 15K Hz のサイン波が
出力されます。
（ DSP 内部発振、自動ループ）
ノイズメーターを 'FLAT' に切り換えます。
ノイズメーターでレベルを確認します。
オシロスコープで OUTPUT L/R, PHONES L/R の出力波形
が、歪んでいないか確認します。
Lch (MONO), Rch を個別にチェックを行って下さい。
Lch, Rch のレベル差は '+1 dBu or -1 dBu' とします。
周波数 レベル1
20 Hz
-20 dBu +3, -1 dBu
1K Hz -20 dBu +3, -1 dBu
5K Hz -20 dBu +3, -1 dBu
15K Hz -20 dBu +3, -1 dBu
Return to the previous check using the [EFFECT L] button.
Go to the next check using the [EFFECT R] button.
6. Special check of mute circuit operation in the output section.
"TEST 2" will appear on the LCD screen.
Switch the noise meter to 'FLAT'.
Check the level using the noise meter.
OUTPUT L and R at or below -65.0 dBu (FLAT)
PHONES L and R at or below -40.0 dBu (FLAT)
Check Lch (MONO) and Rch on individually.
Set the level difference between Lch and Rch to +1 dBu or -1 dBu.
Return to the previous check using the [EFFECT L] button.
Go to the next check using the [EFFECT R] button.
7. Special check of input section frequency response.
"TEST 3" will appear on the LCD screen.
Enter a 200 Hz (200 mVp-p) rectangular wave in the INPUT.
Check the output waveform of OUTPUT L/R and PHONES L/
R using an oscilloscope.
Check Lch (MONO) and Rch on individually.
Return to the previous check using the [EFFECT L] button.
Go to the next check using the [EFFECT R] button.
8. Check of AFAD circuit operation.
"TEST 4" will appear on the LCD screen.
Enter a 200 Hz (20 mVp-p) rectangular wave in the INPUT.
Check the output waveform of OUTPUT L/R using an
oscilloscope.
Return to the previous check using the [EFFECT L] button.
Go to the next check using the [EFFECT R] button.
May. 2001
[EFFECT L] キーで前の検査に戻ります。
[EFFECT R] キーで次の検査に進みます。
6. 出力部ミュート回路動作チェック
LCD に "TEST 2" と表示されます。
ノイズメーターを 'FLAT' に切り換えます。
ノイズメーターでレベルを確認します。
OUTPUT L, R -65.0 dBu（FLAT）以下
PHONES L, R -40.0 dBu（FLAT）以下
Lch (MONO) , Rch を個別にチェックを行って下さい。
Lch, Rch のレベル差は '+1 dBu or -1 dBu' とします。
[EFFECT L] キーで前の検査に戻ります。
[EFFECT R] キーで次の検査に進みます。
7. 入力部 f 特チェック
LCD に "TEST 3" と表示されます。
INPUT に 200 Hz(200 mVp-p) 矩形波を入力します。
オシロスコープで OUTPUT L/R, PHONES L/R の出力波形
を確認します。
Lch (MONO) , Rch を個別にチェックを行って下さい。
[EFFECT L] キーで前の検査に戻ります。
[EFFECT R] キーで次の検査に進みます。
8. AFAD 回路動作チェック
LCD に "TEST 4" と表示されます。
INPUT に 200 Hz (20 mVp-p) 矩形波を入力します。
オシロスコープで OUTPUT L/R の出力波形を確認しま
す。
[EFFECT L] キーで前の検査に戻ります。
[EFFECT R] キーで次の検査に進みます。
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