Note Sur Cmos Ci; Note Sur Memoire Ci; Notes Sur Interface Ci - abi Professional ChipMaster Compact Operator's Manual

Note 3: Pendant le test de ce type de CI, un message « EXT »
apparaitra sur l'écran. Cela signifie que des signaux externes temporels
sont requis. Ces signaux doivent être envoyés dans le socle comme
décrit ci-dessous :
CI
74122/74422
74123/74423
4528/4538/4098

43.15. Note sur CMOS CI

Note 4: Il existe certaines différences entre fournisseurs ce qui peut
provoquer un résultat de FAIL avec un CI autre que le (Motorola)
MC14585 ICs. Veuillez consulter les caractéristiques techniques.
43.16. note sur mémoire CI
Note 5: Le 4532 32k DRAM est, en fait, un 64k DRAM partiellement
non-fonctionnel. Fabriqué par OKI et TI, chacun de ces fournisseurs
fournissent deux types. Les modèles 45321 et 45322 sont utilisés par
OKI, et 45323 et 45324 par TI. Le premier numéro dans les deux cas
est pour la version tableau bas, et le deuxième pour le tableau haut.
Veuillez consulter les caractéristiques techniques.
Note 6: Les tests EPROM exécutent un blankcheck et checksum sur le
CI et montrent le contenu des 16 premières locations. Ces tests ne
peuvent pas confirmer l'intégrité du CI, ou l'identifier en mode SEARCH,
puisque qu'ils n'ont pas informations sur le contenu de l'EPROM. Soyez
patient pendant le test d'une EPROM, les modèles les plus grands
mettent un certain temps.

43.17. notes sur interface CI

Note 7: La version MOS de ce CI est intérieurement dynamique et il est
possible que le test montre un FAIL dans le mode LOOP prolongé.
Cependant, la version CMOS est totalement statique.
Note 8: La version 8742 EPROM de ce CI doit avoir le panneau en
verre couvert, sinon le test montrera FAIL.
Note 9: Les CIs doivent être testés dans la mode FAIL LOOP.
ChipMaster Compact Digital IC Tester
COMPONENTS
2,2µF entre broches 24 et 26 du socle ZIF, +ve a broche 26
2,2µF entre broches 18 et 19 du socle ZIF, +ve a broche 19
2,2µF entre broches 27 et 26 du socle ZIF , +ve a broche 27
0,22µF entre broches 13 et 14 du socle ZIF
0,22µF entre broches 27 et 26 du socle ZIF
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