Sony HDR-GW55VE Service Manual page 28

1-10. 自己診断機能
1-10-1. 自己診断機能について
本機の動作に不具合が生じたとき，自己診断機能が働き，LCD
画面に，どう処置したらよいか判断できる表示を行います。 「自
己診断表示」 と 「サービスモード表示」 の２つの表示があります。
自己診断機能については取扱説明書にも掲載されています。
LCD画面
3.2 Hz点滅
C 3 2 0 0
対応者分類 ブロック分類
C：お客さま自身で対応
対応方法の違いにより分類 「1-10-3. 自己診断コード表」を参照
E：サービスエンジニア
例
3 1
で対応 ･ ･ ･メモリーカードをフォーマットする
32 ･･･電源を入れ直す
1-10-3. 自己診断コード表
自己診断コード
対
症状／状態
ブロック 詳細
応
機能 コード
者
*
C 0 4 0 0 標準以外のバッテリを使用している
C 0 6 0 0 バッテリが高温になっている
フォーマットしていないメモリー
C 1 3 0 1 カードを入れた
メモリーカードが壊れている
C 1 3 0 2 * アクセスエラー
*
C 1 3 0 3 アクセスエラー (外部メディア)
*
C 1 3 0 4 ドライブの異常 (外部メディア)
C 3 2 6 0 フォーカスが合いにくい
( )
E 6 1 0 0 （フォーカスの初期化ができない）
フラッシュメモリが書き換えられて
E 2 0 0 0
いる
*
E 3 1 0 0 ドライブの異常
注意1 ： Adjust StationからAdjust Manualを起動させて 「DESTINATION DATA WRITE」 を参照してく ださい。
注意2 ： *マークのコードは本機には実装されていない機能です。
HDR-GW55VE/GW77/GW77E/GW77V/GW77VE_L2
1-10-2. 自己診断表示
本機の動作に不具合が生じたとき，LCD画面のカウンタ表示部
分がアルファベットと数字の4桁表示になり，3.2Hzで点滅しま
す。この5文字の表示によって対応者分類および不具合の生じ
たブロックの分類，不具合の詳細コードを示します。
詳細コード
対応／方法
インフォリチウムバッテリを使用する。
バッテリを交換するか, バッテリを涼しいとこに置く。
メモリーカードをフォーマットする。
新しいメモリーカードに交換する。
電源を外し，再度入れ直してから操作する。
電源を入れ直す。
電源を入れ直す。
操作スイッチの電源を入れ直す。
復帰しない場合，レンズブロックのフォーカスセンサ （VC-657
基板CN10012ピン） を点検する。
異常なければフォーカスモータ駆動回路 （VC-657基板IC5501）
を点検する。
フラッシュメモリのデータを元の値に戻す。 （注意1）
電源を入れ直す。
自己診断コード
対
症状／状態
ブロック 詳細
応
機能 コード
者
ズーム動作の異常 （ズームレン
E 6 1 1 0
ズの初期化ができない）
E 6 1 1 1 フォーカス，ズーム異常
ステッパIRISイニシャル時リセット
E 6 1 3 0
位置検出異常
手振れ補正が効きにくい （PITCH角速
E 6 2 0 0
度センサ出力張り付き）
手振れ補正が効きにくい （YAW角速
E 6 2 0 1
度センサ出力張り付き）
E 6 2 0 2 手振れ補正用ICの異常
手 振 れ 補 正 用ICと マ イ ク ロ コ ン ト
E 6 2 0 3
ローラーとの通信異常
Active手振れ補正時の画ゆれが補正
E 6 2 0 4 できない
(角速度センサ出力張り付き)
E 6 2 1 0 シフトレンズ初期化異常
シフトレンズオーバーヒート
E 6 2 1 1
(PITCH)
シフトレンズオーバーヒート
E 6 2 1 2
(YAW)
E 6 2 2 0 サーミスタの異常
E 9 1 0 1 フラッシュの充電異常
*
E 9 2 0 2 LEDビデオライトの異常
*
E 9 3 0 3 LEDビデオライトの温度検出異常
(バッテリーの) 電流値が最大放電電
*
E 9 2 0 1
流を超えた
フラッシュメモリの書込み/消去動作
E 9 4 0 0
不良
E 9 4 0 1 フラッシュメモリ内部異常
E 9 4 0 2 BGMデータ異常
E 9 5 0 0 GPSハード異常
E 9 6 0 0 地図領域マウント異常
*
E 9 7 0 0 プロジェクタハード異常
注意3 ： レンズブロックを交換した場合は， Adjust StationからAdjust Manualを起動させて必要な調整項目を実施するこ と。
調整後は手振れ補正ONの状態にして， 手持ち動作で手振れ補正が適切に動作しているこ とを確認する。
1-24
– JAPANESE –
対応／方法
ズームレバーを操作したときにズーム動作をすれば，レンズブロッ
クのズームセンサ信号 （VC-657基板CN1001 5ピン） を点検する。
ズーム動作をしなければズームモータ駆動回路 （VC-657基板IC5501）
を点検する。
自己診断コードC：32：60とE：61：10の両方を点検する。
電源を入れてレンズバリアが開いている状態で、バッテリまたは電源ケーブル
をはずして付け直す。
その際、レンズ内のアイリス羽根が動作していることを確認する。
アイリス羽根が動作してない場合は、レンズドライブブロックのアイリスモー
タドライブ （VC-657基板CN1001 , ピン） を点検する。
qf qg
アイリス羽根が動作する場合は、 アイリス羽根が完全に閉じきることを確認し、
以下の内容を確認する。
・ アイリス羽根を正常に閉じることができない場合レンズブロックを交換す
る。
・ アイリス羽根は正常に閉じているが、E:61:30が出る場合CMOSブロック組
立との通信ができているかを確認する。
・ 正 常 に 画 面 が 出 て い な い 場 合CM-128基 板 のCN7502とVC-657基 板 の
CN1004がFP-1524フレキシブル基板で接続されているかを確認する。
・ 正常に画面が出ている場合レンズブロックを交換する
PITCH角速度センサ （CM-128基板SE7501） 周辺回路を点検する。
YAW角速度センサ （CM-128基板SE7501） 周辺回路を点検する。
「1-11-1. E：62：02 （手振れ補正用ICの異常） が出た場合」 を参照。
手振れ補正回路 （VC-657基板IC5501） を点検。
画ゆれ検出角速度センサ(VC-657基板SE7701) 周辺回路を点検する。
レンズブロックを交換する。 （注意3） エラーが再度発生する場合は， VC-657基
板を交換する。
「1-11-2. E ： 62 ： 11 （シフトレンズオーバーヒート （PITCH） ） が出た場合」 を参照。
「1-11-3. E：62：12 （シフトレンズオーバーヒート （YAW） ） が出た場合」 を参照。
「1-11-4. E：62：20 （サーミスタの異常） が出た場合」 を参照。
フラッシュユニットの点検または交換する。
電源を入れ直す。
電源を入れ直す。
バッテリ残量に依存する場合があるので，バッテリ残量を確認する。次にバッ
テリを交換して症状が出るか確認する。バッテリを交換しても症状が出る場合
は，エラー発生後に電源が切れてしまうため，分解して確認する。
フラッシュメモリ （VC-657基板IC8101） を点検する。
フラッシュメモリ （VC-657基板IC8101） を点検する。
CPU （VC-657基板IC1301） を点検する。
GW55VE/GW77V/GW77VE：
FP-1530フレキシブル基板が切れていないか，また完全に挿入されているかを
点検する。
フレキシブル基板に問題がない場合は，GP-055基板の点検または交換をする。
GW55VE/GW77V/GW77VE：
VC-657基板を点検または交換する。
電源を入れ直す。