Sony MDS-E10 Service Manual page 42

3-5. テストモードの選択
テストモードには下記の26種類が有ります。 lAMSL つまみを回すとグループを切り替える事が出来ます。
サービスにおける調整・確認は全てServiceのグループ内にあるテストモードで可能です。
Developと言うグループも有りますが, サービスで使用することは有りません。誤って入った場合はすぐに MENU/NO ボタン
を押して抜けてください。
ディスプレイ表示 番号
AUTO CHECK C01
Err Display C02
TEMP ADJUS C03
LDPWR ADJUS C04
Iop Write C05
Iop NV Save C06
EF MO ADJUS C07
EF CD ADJUS C08
FBIAS ADJUS C09
AG Set (MO) C10
AG Set (CD) C11
TEMP CHECK C12
LDPWR CHECK C13
EF MO CHECK C14
EF CD CHECK C15
FBIAS CHECK C16
ScurveCHECK C17
VERIFYMODE C18
DETRK CHECK C19
0920 CHECK C25
Iop Read C26
Iop Compare C27
ADJ CLEAR C28
INFORMATION C31
CPLAY1MODE C34
CREC 1MODE C35
・ 各調整モードの詳しい説明は, 4.電気調整の各項目を参照して下さい。
・ 誤って別のモードに入ったときは, MENU/NO ボタンを押しそのモードから抜けてください。
・ マーク欄に×の有る項目はサービスで使用しませんので詳しい説明はしておりません。誤ってこれらのモードに入ってし
まった場合はすぐに MENU/NO ボタンを押してこのモードから抜けてください。
特にDevelop内のテストモードを使用した場合,セットが正常に動かなくなる恐れがありますので十分気をつけて下さい。
内容
自動自己診断
エラー履歴表示，クリア
温度補償オフセット調整
レーザパワー調整
Iopデータの書き込み
現在のIop値をマイコンで読み出し不揮発に書き込む
トラバース（MO）調整
トラバース（CD）調整
フォーカスバイアス調整
フォーカス，トラッキング ゲインの調整（MO）
フォーカス，トラッキング ゲインの調整（CD）
温度補償オフセット確認
レーザパワー確認
トラバース（MO）確認
トラバース（CD）確認
フォーカスバイアス確認
S字確認
不揮発メモリ確認
デトラック確認
最外周確認
Iopデータの表示
不揮発に書き込まれた初期Iop値との比較
調整値の不揮発メモリの初期化
マイコンのバージョン等の表示
連続再生モード
連続録音モード
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グループ
マーク
Check Service
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