Sony NEX-VG30 Service Manual page 11

1-5. MB Nプレート交換時の注意
以下の手順は3箇所それぞれ行ってください。
注意: MB Nプレートの交換を行う前に，手順(1)から(3)にて交換前の寸法を測定してください。
(1) イメージャー Assy，IM調整ワッシャを取り外してください。
(2) 取り外したIM調整ワッシャの寸法 （A） を測定してください。
(3) IM調整ワッシャが取り付いていたビス穴端面からE-Mount端面までの寸法 （B） を測定してください。
(4) 新品の前キャビネットの各IM調整ワッシャ取り付け部についても同様に寸法 （B'） を測定してください。
(5) 以下の式より新たに使用するIM調整ワッシャの寸法 （A'） を算出し，ワッシャの選定を行ってください。
交換前の寸法 （A+B） − 新前キャビネットの寸法 （B' ） = 交換後のIM調整ワッシャ寸法 （A'）
(6) 選定したIM調整ワッシャを使用してイメージャーを組み付けてください。
(7) 組立完成後，試し撮りを行い周辺ボケ等の不具合が無いことを確認してください。
NEX-VG30/VG30E/VG30EH/VG30H_L2
1-6. 自己診断機能
1-6-1. 自己診断機能について
本機の動作に不具合が生じたとき，自己診断機能が働き，LCD
画面に，どう処置したらよいか判断できる表示を行います。 「自
己診断表示」 と 「サービスモード表示」 の２つの表示があります。
自己診断機能については取扱説明書にも掲載されています。
LCD画面
3.2 Hz点滅
C 3 2 0 0
対応者分類 ブロック分類
C ：お客さま自身で対応 対応方法の違いにより分類
E ：サービスエンジニア 例
で対応 13 ･･･メモリーカードをフォーマットする
32 ･･･電源を入れ直す ･･･電源を入れ直す
1-6-3. 自己診断コード表
自己診断コード
対
症状／状態
ブロック 詳細
応
機能 コード
者
C 0 4 0 0 標準以外のバッテリを使用している
C 0 6 0 0 バッテリが高温になっている
フォーマットしていないメモリー
C 1 3 0 1 カードを入れた
メモリーカードが壊れている
C 1 3 0 2 アクセスエラー
C 1 3 0 3 アクセスエラー (外部メディア)
C 1 3 0 4 ドライブの異常 (外部メディア)
*
C 3 2 6 0 フォーカスが合いにくい
( * )
E 6 1 0 0 （フォーカスの初期化ができない）
フラッシュメモリが書き換えられて
E 2 0 0 0
いる
E 3 1 0 0 ドライブの異常
注意1 ： Adjust StationからAdjust Manualを起動させて 「DESTINATION DATA WRITE」 を参照してく ださい。
注意2 ： *マークのコードは本機には実装されていない機能です。
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1-6-2. 自己診断表示
本機の動作に不具合が生じたとき，LCD画面のカウンタ表示部
分がアルファベットと数字の4桁表示になり，3.2Hzで点滅しま
す。この5文字の表示によって対応者分類および不具合の生じ
たブロックの分類，不具合の詳細コードを示します。
詳細コード
「1‑6‑3. 自己診断コード表」を参照
対応／方法
インフォリチウムバッテリを使用する。
バッテリを交換するか, バッテリを涼しいとこに置く。
メモリーカードをフォーマットする。
新しいメモリーカードに交換する。
電源を外し，再度入れ直してから操作する。
電源を入れ直す。
電源を入れ直す。
電源を入れ直す。
フラッシュメモリのデータを元の値に戻す。 （注意1）
電源を入れ直す。
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