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1-3-3. 自己診断コード表
自己診断コード
ブロック
詳細
機能
コード
C
0
4
0
C
1
3
0
C
1
3
0
C
3
2
6
E
2
0
0
E
6
1
1
E
6
1
1
E
6
2
0
E
6
2
0
E
9
1
0
E
9
4
0
注意 1： ADJ編，（「1-3. DESTINATION DATA WRITE」）を参照してください。
注意 2： レンズブロックを交換した場合は，ADJ編を参照して必要な調整項目を実施すること。調整後は手振れ補正ONの状
態にして，手持ち動作で手振れ補正が適切に動作していることを確認する。
HDR-TG1/TG1E/TG3E_L2
症状／状態
標準以外のバッテリを使用している
0
フォーマットしていない メモリー
ステック デュオ を入れた
1
メモリーステック デュオ が壊
れている
2
アクセスエラー
フォーカスが合いにくい
0
（フォーカスの初期化ができない）
フラッシュメモリが書き換えられて
0
いる
ズーム動作の異常（ズームレンズの
0
初期化ができない）
1
フォーカス，ズーム異常
手振れ補正が効きにくい（PITCH
0
角速度センサ出力張り付き）
手振れ補正が効きにくい（YAW 角
1
速度センサ出力張り付き）
1
フラッシュの充電異常
フラッシュメモリの書込み/消去動
0
作不良
インフォリチウムバッテリを使用する。
メモリーステック デュオ をフォーマットする。
新しい メモリーステック デュオ に交換する。
電源を外し，再度入れ直してから操作する。
操作スイッチの電源を入れ直す。
復帰しない場合，レンズブロックのフォーカスMRセンサ
（LD-235基板CN5202 1，2ピン）を点検する。異常なけ
ればフォーカスモータ駆動回路（LD-235基板IC5201）を
点検する。
フラッシュメモリのデータを元の値に戻す。（注意1）
ズームレバーを操作したときにズーム動作をすれば，レン
ズブロックのズームリセットセンサ（LD-235基板CN5202
wfピン）を点検する。ズーム動作をしなければズームモー
タ駆動回路（LD-235基板IC5201）を点検する。
自己診断コードC：32：60とE：61：10の両方を点検す
る。
PITCH/YAW角速度センサ（SE-174基板SE6602）周辺回路
を点検する。
PITCH/YAW角速度センサ（SE-174基板SE6602）周辺回路
を点検する。
フラッシュユニットの点検または交換をする。
フラッシュメモリ（VC-522基板IC2101）を点検する。
1-6
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JAPANESE
ENGLISH
JAPANESE
対応／方法
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